Mesures de défauts surfaciques

en PRODUCTION

Gamme de Ø : 20 - 2000µm

SQM2

SQM-F (en test - sortie 2019 !)

Mesure de défauts surfaciques de fils, câbles, tubes sur 360° /256 pixels à une vitesse de 200 000 images par seconde. Couverture complète de la surface. Caractérisation en temps réel des défauts. Affichage de la forme du défaut mesuré. Indépendance de la mesure des vibrations du fil.
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Notre solution logicielle : CIM PROD

cim

Logiciel CIM PROD

CIM (CERSA Instruments Management) est un logiciel sur PC développé par nos équipes permettant d'afficher et d'enregistrer les données de mesures des appareils CERSA. Il permet également de réaliser des statistiques ou encore de générer un rapport complet de mesures
Connecté à notre nouvel appareil de mesure de défauts surfaciques, le SQM, il vous permettra d'afficher et mesurer la forme des défauts, générer des alarmes paramétrables, ou encore positionner précisément le défaut sur la bobine, etc.
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